Phương pháp tiếp cận thông minh để kiểm tra tham số Wafer

Khi tiếp tục giới thiệu các quy trình mới và mang tính sáng tạo với kích thước thiết bị nhỏ dần, các nhà sản xuất vi mạch cần đảm bảo độ phức tạp từ những thay đổi này không ảnh hưởng đến độ tin cậy lâu dài của vi mạch. Khi công nghệ phát triển với tốc độ nhanh chóng, các nhà sản xuất chất bán dẫn phải tăng lượng dữ liệu độ tin cậy mà họ thu thập và phân tích, đồng thời cũng giảm chi phí kiểm tra. Khi đối mặt với các vấn đề trái ngược nhau như lượng dữ liệu tăng trong khi chi phí phải thấp hơn này, nhiều kỹ sư nhận thấy rằng không thể giải quyết được bằng các giải pháp độ tin cậy truyền thống, vì vậy các nhà sản xuất, kỹ sư đang chuyển sang các giải pháp mô-đun, linh hoạt có thể mở rộng để phù hợp với nhu cầu.