EPS-02Ev3 (Phiên bản nhỏ và giá thấp hơn)
Hệ thống trực quan hóa trường điện từ
*Phương pháp phát hiện vị trí độc quyền được cấp bằng sáng chế số 2007-223275 của Đại học Kanazawa và bằng sáng chế số 5205547 của Noise Laboratory Co., Ltd.
- Công cụ chẩn đoán thời gian thực hỗ trợ gỡ lỗi EMC/EMI.
- Trực quan hóa nhanh các vấn đề về EMC/EMI.
- Cho phép dễ dàng so sánh các biện pháp đối phó trước và sau.
- Có khả năng đo lường từ toàn bộ sản phẩm đến các thành phần đơn lẻ.
- Chức năng Factor-editor cung cấp hiệu chỉnh các đặc tính của anten, suy hao cáp và bộ tiền khuếch đại.
- Thiết kế nhỏ gọn thân thiện với người dùng.
- Phổ và đầu dò do khách hàng cung cấp có thể được chấp nhận (Vui lòng tham khảo ý kiến)
Có khả năng đo các kích cỡ sản phẩm khác nhau: áp dụng nhiều đầu dò khác nhau
Các đầu dò khác nhau được áp dụng bất kể nhà sản xuất. Không chỉ các thành phần nhỏ mà cả thiết bị lớn cũng có thể đo bằng cách thay đổi đầu dò. Hơn nữa, ngay cả những sản phẩm có hình dạng bề mặt phức tạp cũng có thể đo được bằng cách điều chỉnh vị trí của máy ảnh.
Dễ dàng kiểm tra tần suất xuất hiện nhiễu: Thêm chức năng hiển thị mật độ.
Đã thêm chức năng hiển thị màu sắc theo tần suất xuất hiện (chức năng hiển thị mật độ) vào chức năng hiển thị phổ thông thường. Điều này giúp dễ dàng kiểm tra tần suất xuất hiện nhiễu và biên độ tại tần số đo.
Đơn giản hóa gỡ lỗi EMC/EMI : Hiển thị ba chiều (Thời gian, tần số, biên độ)
Phần hiển thị ba chiều (Thời gian, Tần số, Biên độ) xác định lỗi thiết kế ngay cả khi nhiễu không liên tục.
Dễ dàng so sánh trước và sau các biện pháp đối phó.
Phần hiển thị ba chiều (Thời gian, Tần số, Biên độ) xác định lỗi thiết kế ngay cả khi nhiễu không liên tục.
Các lựa chọn
Vỏ đầu dò ba màu - MODEL: 03-00110A
Vỏ đầu dò ba màu thay thế - MODEL: 03-00111A
Bộ tiền khuếch đại - MODEL：00-00012A/14A/16A/19A
